HOMELv009 サーモグラフィで金属光沢面を測定する際、放射率を上げるための一般的な対策はどれか。 2026年5月5日 金属面は放射率が低く誤差が大きいため、放射率の高いテープやスプレーを塗布して測定する。 設備診断における「P-F間隔」の「P」が指す状態はどれか。 FFT解析で「エリアシング(折り返し誤差)」を防ぐために使用する回路はどれか。