TOFD法において、欠陥の端部から発生する何を捉えてサイジングを行うか。

2026年5月31日

TOFD法は欠陥の端部（チップ）から発生する回折波を利用して高精度に測定する。

遅延材（ソリッドシュー）付き探触子を用いる最大の利点はどれか。

Cスコープ表示において、一般的に表示される情報はどれか。