溶接部の非破壊検査において、表面開口欠陥のみならず、表面直下の欠陥も検出可能であるが、導電性材料に限られる方法はどれか。

渦電流探傷試験 (ET) は、電磁誘導を利用するため導電性材料に適用され、表面および表面直下の欠陥検出に適している(MTは強磁性体限定)。