並列計算において、並列化可能な部分の割合を f としたとき、プロセッサ数 n による速度向上比の限界を示す法則はどれか。

マイケルソン干渉計の原理を用い、レーザー光の干渉縞をカウントすることで数ナノメートル単位の変位を測定する装置はどれか。