半導体集積回路の製造テスト技術「DFT (Design for Testability)」の代表的な手法はどれか。

Linuxシステムにおいて、メモリ不足（OOM: Out Of Memory）発生時に、カーネルがプロセスを強制終了させる仕組みを何と呼ぶか。