HRMSにおいて、分子イオン（M+）の強度が弱く、フラグメントイオンが強く出る原因として考えられるのは。

2026年4月19日

電子衝撃法(EI)などにより分子が過剰に解裂（フラグメンテーション）すると、親イオンが減少する。

スクラバーによるダイオキシン類除去において、ガス側の物質移動抵抗を小さくするために有効な手段は。

ダイオキシン類対策特別措置法において、大気排出基準の超過が判明した際の行政処分はどれか。