HOMELv010 透過型電子顕微鏡（TEM）の観察において、試料を非常に薄く（100nm程度以下）調整しなければならない理由はどれか。 2026年5月24日 電子線は透過力が弱いため、薄膜状の試料でないと内部を透過し結像できない。 微小な相対すべりを伴う接触部で発生する、酸化を伴う摩耗・疲労現象を何というか。 JIS Z 2241における引張試験の「標点距離（L0）」の算出式（比例試験片）で、断面積をS0としたとき、正しいものはどれか。
