インサーキットテスタ（ICT）を用いて基板を検査する際、各測定点に接触させるピンの名称はどれか。

2026年5月30日

「剣山」のように多数のピンを立てて回路の導通や定数を測る。

ツェナーダイオードの主な特性を利用した回路はどれか。

コンデンサの直列接続において、合成静電容量Cを求める式はどれか。