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非破壊試験技術者 (NDI) 超音波探傷 (UT) レベル2
「非破壊試験技術者 (NDI) 超音波探傷 (UT) レベル2」の記事一覧
鋼中の縦波音速CLと横波音速CTの比(CL/CT)に影響を与える材料定数はどれか。
縦波と横波の音速比は、材料のポアソン比のみの関数として表される。
2026年5月31日
デジタル探傷器の「表示更新レート(フレームレート)」が低い場合の弊害はどれか。
画面の書き換えが追いつかないと、一瞬現れた欠陥エコーが表示されないことがある。
2026年5月31日
JIS Z 2345-1で規定されている「標準試験片STB-G」の主な用途はどれか。
STB-Gシリーズは、垂直探傷における感度調整や装置性能の確認に広く用いられる。
2026年5月31日
斜角探触子を試験体に置いたとき、ウェッジと試験体の間の接触媒質が厚すぎるとどうなるか。
接触媒質層も一つの媒質として機能するため、厚すぎると干渉や多重反射の原因となる。
2026年5月31日
超音波の強さ(I)が初期値I0から距離x進んだ時の式 I = I0 exp(-2αx) において、αは何を表すか。
αは単位長さあたりの音圧の減少率を表す定数である。
2026年5月31日
理想的な気体中の音速に最も大きな影響を与える因子はどれか。
気体中の音速は絶対温度の平方根に比例して変化する。
2026年5月31日
「フルスクリーン・モニタ」機能とは何を指すか。
測定対象のエコーを評価基準(100%)に合わせて調整することを指す。
2026年5月31日
「広帯域探触子」を用いて厚い試験体を探傷する際の欠点はどれか。
高い分解能を得るために制動を強くかけているため、一般に浸透力はやや低くなる。
2026年5月31日
垂直探傷において、底面エコーの後方に現れる、底面エコーより間隔の短いエコーの原因は何か。
底面での反射時に一部が横波に変換され、遅れて戻ってくることで擬似的なエコーを作る。
2026年5月31日
「斜角探傷」で溶接部の検査を行う際、探触子を溶接線に対して直角に前後させる走査を何と呼ぶか。
前後走査は、溶接部内部の異なる深さの欠陥を探索するための基本的な動きである。
2026年5月31日
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