半導体工場の検査工程で、顕微鏡画像から微細なキズ(不良)を検出したい。良品・不良品の画像データを用いて学習させることが可能である。

Custom Visionを使用すれば、独自の画像データセット(良品・不良品)を用いて、特定の欠陥を検出するカスタムモデルをトレーニングできる。