HOMELv045 JTAGバウンダリスキャンにおいて、ICの端子を外部から操作して基板上の配線接続テスト(断線・短絡チェック)を行うための命令はどれか。 2026年1月24日 ICの端子を操作する命令で、基板の断線や短絡をテストできる オシロスコープを選定する際、測定したい信号の周波数成分に対して、帯域幅は一般的にどの程度必要とされるか。 複数のデバイスをJTAGチェーン(デイジーチェーン)接続した場合のTDI/TDOの配線方法はどれか。