複数のデバイスをJTAGチェーン（デイジーチェーン）接続した場合のTDI/TDOの配線方法はどれか。

JTAGバウンダリスキャンにおいて、ICの端子を外部から操作して基板上の配線接続テスト（断線・短絡チェック）を行うための命令はどれか。